ログイン
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To

Field does not validate

To

Field does not validate

To
lat lon distance


インデックスリンク

インデックスツリー

  • RootNode

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 060 工学部
  2. 40 学会発表資料
  3. 06 SPIE
  1. 0 資料タイプ別
  2. 04 会議発表論文

Multiple-wavelength interferometers using backpropagation of optical fields for profile measurement of thin glass sheets

http://hdl.handle.net/10191/27468
http://hdl.handle.net/10191/27468
2b105c0e-0763-4132-a250-858b063f68d6
名前 / ファイル ライセンス アクション
7790_77900U.pdf 7790_77900U.pdf (1.7 MB)
Item type 会議発表論文 / Conference Paper(1)
公開日 2014-06-20
タイトル
タイトル Multiple-wavelength interferometers using backpropagation of optical fields for profile measurement of thin glass sheets
タイトル
タイトル Multiple-wavelength interferometers using backpropagation of optical fields for profile measurement of thin glass sheets
言語 en
言語
言語 eng
キーワード
主題Scheme Other
主題 multiple wavelengths
キーワード
主題Scheme Other
主題 interferometer
キーワード
主題Scheme Other
主題 shape measurement
キーワード
主題Scheme Other
主題 backpropagation of optical field
資源タイプ
資源 http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
タイプ conference paper
著者 Sasaki, Osami

× Sasaki, Osami

WEKO 169391

Sasaki, Osami

Search repository
Samuel, Choi

× Samuel, Choi

WEKO 169392

Samuel, Choi

Search repository
Suzuki, Takamasa

× Suzuki, Takamasa

WEKO 39

Suzuki, Takamasa

Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Multiple-wavelength optical fields at a detecting plane of an interferometer are generated by a computer from the detected interference signals of a thin glass sheet. The generated optical fields are backpropagated towards the glass sheet along the optical axis. An optical field along the optical axis is reconstructed by summing the backpropagated fields over the multiple wavelengths. The amplitude and phase distributions of the reconstructed optical field provide the positions of the two surfaces of the glass sheet where peak values of the amplitude and zero or π values of the phase appear. The accuracy of the position measurement is several nanometers.
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 Interferometry 15: techniques and analysis : 2-4 August 2010 : San Diego, California, United States. : 15th interferometry conference : SPIE 55th annual meeting : Aug 2010, San Diego, CA
書誌情報 Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
en : Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering

巻 7790, p. 77900U-1-77900U-7, 発行日 2010-08
出版者
出版者 International Society for Optical Engineering, SPIE
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0277786X
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA10619755
DOI
識別子タイプ DOI
関連識別子 info:doi/10.1117/12.861534
権利
権利情報 Copyright 2010 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers. One print or electronic copy may be made for personal use only. Systematic reproduction and distribution, duplication of any material in this paper for a fee or for commercial purposes, or modification of the content of the paper are prohibited.
著者版フラグ
値 publisher
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2021-03-01 09:59:54.551229
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3