WEKO3
アイテム
陽子線断層撮影におけるシリコンストリップ検出器を使用した空間分解能と電子数測定の研究
http://hdl.handle.net/10191/27255
http://hdl.handle.net/10191/27255688f4f67-4111-49c3-bbb1-6e21e15b3202
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2014-05-19 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 陽子線断層撮影におけるシリコンストリップ検出器を使用した空間分解能と電子数測定の研究 | |||||
タイトル | ||||||
言語 | en | |||||
タイトル | 陽子線断層撮影におけるシリコンストリップ検出器を使用した空間分解能と電子数測定の研究 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
タイプ | thesis | |||||
著者 |
皿谷, 有一
× 皿谷, 有一 |
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内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 学位の種類: 博士(理学). 報告番号: 甲第3913号. 学位記番号: 新大院博(理)甲第382号. 学位授与年月日: 平成26年3月24日 | |||||
書誌情報 | p. 1-88, 発行日 2014-03-24 | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 新潟大学 | |||||
著者版フラグ | ||||||
値 | none | |||||
学位名 | ||||||
学位名 | 博士(理学) | |||||
学位授与機関 | ||||||
学位授与機関名 | 新潟大学 | |||||
学位授与年月日 | ||||||
学位授与年月日 | 2014-03-24 | |||||
学位授与番号 | ||||||
学位授与番号 | 13101甲第3913号 | |||||
学位記番号 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 新大院博(理)甲第382号 |