WEKO3
アイテム
正弦波状波長走査レーザ干渉法による形状計測に関する研究
http://hdl.handle.net/10191/1450
http://hdl.handle.net/10191/145015a4f710-05ea-4ebb-8c15-16a4d38474af
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文 (7.0 MB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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| 公開日 | 2007-04-23 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 正弦波状波長走査レーザ干渉法による形状計測に関する研究 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 正弦波状波長走査レーザ干渉法による形状計測に関する研究 | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Interferometer | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | wavelength-scanning | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Surface profile measurement | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 干渉計 | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 波長走査 | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 表面形状計測 | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| タイプ | thesis | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Study on surface profile measurement by a sinusoidal wavelength-scanning interferometry | |||||
| 著者 |
秋山, 久
× 秋山, 久 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 48984 | |||||
| 姓名 | Akiyama, Hisashi | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 新大院博（工）甲第217号 | |||||
| 書誌情報 | p. 1-111, 発行日 2006-03-23 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 新潟大学大学院自然科学研究科 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 値 | author | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 博士（工学） | |||||
| 学位授与機関 | ||||||
| 学位授与機関名 | 新潟大学 | |||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2006-03-23 | |||||
| 学位授与番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 13101甲第2670号 | |||||
| 学位記番号 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 新大院博（工）甲第217号 | |||||
