WEKO3
アイテム
高エネルギー放射光を用いたひずみスキャニング法による残留応力分布測定
http://hdl.handle.net/10191/5716
http://hdl.handle.net/10191/5716fccf9f9c-fced-482b-a437-e344e36daf7a
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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9_0014.pdf (691.5 kB)
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| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
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| 公開日 | 2008-04-08 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 高エネルギー放射光を用いたひずみスキャニング法による残留応力分布測定 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 高エネルギー放射光を用いたひずみスキャニング法による残留応力分布測定 | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Thermal Barrier Coating | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | X-ray Stress Measurement | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Residual Stress | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Strain Scanning | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Ceramics | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Synchrotron | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| タイプ | journal article | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Measurement of Residual Stress Distribution by Strain Scanning Method using High Energy X-rays from Synchrotron Source | |||||
| 著者 |
町屋, 修太郎
× 町屋, 修太郎× 秋庭, 義明× 鈴木, 賢治× 田中, 啓介× 栗村, 隆之× 小熊, 英隆 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 44618 | |||||
| 姓名 | Machiya, Syutaro | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 44619 | |||||
| 姓名 | Akiniwa, Yoshiaki | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 44620 | |||||
| 姓名 | Suzuki, Kenji | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 44621 | |||||
| 姓名 | Tanaka, Keisuke | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 44622 | |||||
| 姓名 | Kurimura, Takayuki | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 44623 | |||||
| 姓名 | Oguma, Hidetaka | |||||
| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | A residual stress distribution in thermal barrier coatings can be measured using the strain scanning method with high energy X-rays from a synchrotoron source due to its large penetration depth. For the double slits optics, the peak aberration of the measured diffraction becomes large, when the gage volume crosses the surface. The analytical correction method for the peak aberration was proposed in this paper. The surface aberration effect was corrected by taking account of the difference between the center of the goniometer and the optical centroid of the gage volume. Using the correction method, the distribution of the residual stress in thermal barrier coatings were measured from the surface to about 0.26mm inside. For the as-sprayed top coating, the in-plane residual stress was approximately 30 MPa, and out-of-plane stress increased near by interface. For the coating subjected to the heat cycle (1 773K), the both residual stress were relesed. | |||||
| 書誌情報 |
日本機械学会論文集. A編 en : 日本機械学会論文集. A編 巻 71, 号 711, p. 1530-1537, 発行日 2005-11 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 日本機械学会 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 03875008 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN0018742X | |||||
| 権利 | ||||||
| 権利情報 | 日本機械学会 / 本文データは学会の許諾に基づくCiNiiからの複製である | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 値 | publisher | |||||
| 異版である | ||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||
| 識別子タイプ | URI | |||||
| 関連識別子 | http://ci.nii.ac.jp/naid/110004999114 | |||||
