WEKO3
アイテム
Interference fringe analysis using wavelet transform
http://hdl.handle.net/10191/31154
http://hdl.handle.net/10191/31154b156cc91-032d-4c3d-b255-3b7da4db8630
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
7160_716002.pdf (1.2 MB)
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| Item type | 会議発表論文 / Conference Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2014-12-18 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Interference fringe analysis using wavelet transform | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Interference fringe analysis using wavelet transform | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Fringe analysis | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | wavelet transform | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Fourier transform | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | instantaneous image acquisition | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||
| 著者 |
Suzuki, Takamasa
× Suzuki, Takamasa× Kiyohara, Ryo× Ichikawa, Mika× Sasaki, Osami |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | Fringe analysis methods that employ wavelet transform are described. The performances of the methods are examined from the viewpoints of required calculation time and accuracy. Further, accuracies of calculations performed using linear and logarithmic scales in wavelet transform are compared. Experimental results show that wavelet signal processing is effective in measuring profiles having large and gradual asperities. | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | Optoelectronic measurement technology and applications : 16-19 November 2008 : Beijing, China. | |||||
| 書誌情報 |
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering en : Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering 巻 7160, p. 716002-1-716002-12, 発行日 2008-11 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | International Society for Optical Engineering, SPIE | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 0277786X | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA10619755 | |||||
| DOI | ||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||
| 関連識別子 | info:doi/10.1117/12.817853 | |||||
| 権利 | ||||||
| 権利情報 | Copyright(C)2008 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 値 | publisher | |||||
