WEKO3
アイテム
アナライザを用いたひずみスキャニング法の表面効果の補正
http://hdl.handle.net/10191/18172
http://hdl.handle.net/10191/1817276b2a5fe-ad87-4a0b-96bc-61d60046acd1
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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55_101.pdf (614.5 kB)
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| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2012-06-04 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | アナライザを用いたひずみスキャニング法の表面効果の補正 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | アナライザを用いたひずみスキャニング法の表面効果の補正 | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Residual stress | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Hard synchrotron X-ray | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | X-ray stress measurement | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Strain scanning method | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| タイプ | journal article | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Correction of Surface Aberration in Strain Scanning Method with Analyzer | |||||
| 著者 |
菖蒲, 敬久
× 菖蒲, 敬久× 水木, 純一郎× 鈴木, 賢治× 秋庭, 義明× 田中, 啓介 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 39797 | |||||
| 姓名 | Shobu, Takahisa | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 39798 | |||||
| 姓名 | Mizuki, Junichiro | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 39799 | |||||
| 姓名 | Suzuki, Kenji | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 39800 | |||||
| 姓名 | Akiniwa, Yoshiaki | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 39801 | |||||
| 姓名 | Tanaka, Keisuke | |||||
| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | When a gauge volume sank below a specimen surface, the diffraction angle shifts. Thus, it is required to correct the surface aberration. For the annealed specimen of S45C, the shift in the diffraction angle was investigated using a strain scanning method with Ge (111) analyzer. This phenomenon was caused by the difference in the centroid between the geometric and the instrumental gauge volumes. This difference is explained by the following factors; 1) the change in the gauge volume by the divergence of the analyzer, 2)the X-ray penetration depth, 3)the gap of the centre line between the double receiving slits due to mis-setting the analyzer. As a result, the correcting method considered into these factors was proposed. For the shot-peened specimens of S45C, the diffraction angles were measured and corrected by our method. The distribution of the residual stress agreed with that obtained by the removal method. | |||||
| 書誌情報 |
材料 en : 材料 巻 55, 号 1, p. 101-108, 発行日 2006-01 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 日本材料学会 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 05145163 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00096175 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 値 | publisher | |||||
