WEKO3
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任意形状物体からの散乱電界の振幅成分によるDiffraction Tomography実験
http://hdl.handle.net/10191/8271
http://hdl.handle.net/10191/8271218af5e0-b0bf-46d8-982b-d5d23d6a26eb
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
J80-B-2-8_ 739-741.pdf (320.9 kB)
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Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
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公開日 | 2009-04-14 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 任意形状物体からの散乱電界の振幅成分によるDiffraction Tomography実験 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | Diffraction Tomography | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | Born近似 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | フーリエ回折投影定理 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 振幅成分 | |||||
資源タイプ | ||||||
資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
タイプ | journal article | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | Diffraction Tomography Experiment using the Amplitude of Scattered Wave From Arbitrary Shape Object | |||||
著者 |
伊藤, 孝充
× 伊藤, 孝充× 山口, 芳雄× 山田, 寛喜 |
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著者別名 | ||||||
識別子 | 42526 | |||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
姓名 | Itoh, Takamitsu | |||||
著者別名 | ||||||
識別子 | 19 | |||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
姓名 | Yamaguchi, Yoshio | |||||
著者別名 | ||||||
識別子 | 50 | |||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
姓名 | Yamada, Hiroyoshi | |||||
抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | 散乱電界の振幅のみを用いたDiffraction Tomographyにおいて, 任意形状物体の再構成が可能であることを実験的に示した. | |||||
書誌情報 |
電子情報通信学会論文誌. B-II, 通信II en : 電子情報通信学会論文誌. B-II, 通信II 巻 J80-B-II, 号 8, p. 739-741, 発行日 1997-08 |
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出版者 | ||||||
出版者 | 電子情報通信学会 | |||||
ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 09151885 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN10071159 | |||||
権利 | ||||||
権利情報 | copyright©1997 IEICE | |||||
著者版フラグ | ||||||
値 | publisher | |||||
異版である | ||||||
関連タイプ | isVersionOf | |||||
識別子タイプ | URI | |||||
関連識別子 | http://www.ieice.org/jpn/trans_online/ |