2024-03-29T01:02:57Z
https://niigata-u.repo.nii.ac.jp/oai
oai:niigata-u.repo.nii.ac.jp:00005495
2022-12-15T03:38:32Z
453:455
468:563:564
陽子線断層撮影におけるシリコンストリップ検出器を使用した空間分解能と電子数測定の研究
陽子線断層撮影におけるシリコンストリップ検出器を使用した空間分解能と電子数測定の研究
皿谷, 有一
50379
新潟大学
博士(理学)
学位の種類: 博士(理学). 報告番号: 甲第3913号. 学位記番号: 新大院博(理)甲第382号. 学位授与年月日: 平成26年3月24日
新大院博(理)甲第382号
thesis
新潟大学
2014-03-24
2014-03-24
application/pdf
application/pdf
1
88
13101甲第3913号
https://niigata-u.repo.nii.ac.jp/record/5495/files/h25fsk382_b.pdf
https://niigata-u.repo.nii.ac.jp/record/5495/files/h25fsk382_a.pdf
jpn