2024-03-29T01:27:00Z
https://niigata-u.repo.nii.ac.jp/oai
oai:niigata-u.repo.nii.ac.jp:00004734
2022-12-15T03:37:34Z
453:455
468:563:564
Study on surface profile measurement by a sinusoidal wavelength-scanning interferometry
正弦波状波長走査レーザ干渉法による形状計測に関する研究
正弦波状波長走査レーザ干渉法による形状計測に関する研究
秋山, 久
48983
Interferometer
wavelength-scanning
Surface profile measurement
干渉計
波長走査
表面形状計測
新潟大学
博士(工学)
新大院博(工)甲第217号
新大院博(工)甲第217号
thesis
新潟大学大学院自然科学研究科
2006-03-23
2006-03-23
application/pdf
1
111
13101甲第2670号
https://niigata-u.repo.nii.ac.jp/record/4734/files/13_0020.pdf
jpn