2024-03-29T06:43:08Z
https://niigata-u.repo.nii.ac.jp/oai
oai:niigata-u.repo.nii.ac.jp:00002461
2022-12-15T03:35:34Z
453:454
468:469:470
Measurement of the B0-B̅0 Mixing Parameter Δmd using Semileptonic B0 Decays
Measurement of the B0-B̅0 Mixing Parameter Δmd using Semileptonic B0 Decays
Hara, K.
32366
Hazumi, M.
32367
Abe, K.
32368
Abe, K.
32369
Abe, T.
32370
Adachi, I.
32371
Ahn, Byoung Sup
32372
Aihara, H.
32373
Akatsu, M.
32374
Asano, Y.
32375
Aso, T.
32376
Zhilich, V.
32377
Matsumoto, S.
32378
Bozek, A.
32379
Ishikawa, A.
32380
Žontar, D.
32381
Bračko, M.
32382
Brodzicka, J.
32383
Hastings, N. C.
32384
Browder, T. E.
32385
Eiges, V.
32386
Ogawa, S.
32387
Casey, B. C. K.
32388
Kim, T. H.
32389
Chang, P.
32390
Chao, Y.
32391
Chen, K. -F.
32392
Cheon, B. G.
32393
Itoh, R.
32394
Matsumoto, T.
32395
Chistov, R.
32396
Križan, P.
32397
Aushev, T.
32398
Hayashii, H.
32399
Choi, S. -K.
32400
Peters, M.
32401
Enari, Y.
32402
Miyabayashi, K.
32403
Everton, C. W.
32404
Fang, F.
32405
Fukunaga, C.
32406
Gabyshev, N.
32407
Korpar, S.
32408
Ohshima, T.
32409
Garmash, A.
32410
Gershon, T.
32411
Moloney, G. R.
32412
Piilonen, L. E.
32413
Iwasaki, Y.
32414
Golob, B.
32415
Senyo, K.
32416
Heenan, E. M.
32417
Higuchi, I.
32418
Higuchi, T.
32419
Tanaka, M.
32420
Hinz, L.
32421
Hoshi, Y.
32422
Hou, W. -S.
32423
Miyata, H.
32424
Root, N.
32425
Hsiung, Y. B.
32426
Hsu, S. -C.
32427
Krokovny, P.
32428
Seuster, R.
32429
Kulasiri, R.
32430
Okabe, T.
32431
Huang, H. -C.
32432
Takahashi, T.
32433
Jang, H. K.
32434
Kakuno, H.
32435
Kang, J. H.
32436
Wang, J. G.
32437
Kang, J. S.
32438
Katayama, N.
32439
Kawai, H.
32440
Kawakami, Y.
32441
Okuno, S.
32442
Sevior, M. E.
32443
Kawamura, N.
32444
Kichimi, H.
32445
Mori, T.
32446
Takasaki, F.
32447
Nagamine, T.
32448
Rozanska, M.
32449
Kim, D. W.
32450
Varner, G.
32451
Kumar, S.
32452
Olsen, S. L.
32453
Kuzmin, A.
32454
Kwon, Y. -J.
32455
Bay, A.
32456
Lange, J. S.
32457
Leder, G.
32458
Lee, S. H.
32459
Li, J.
32460
Rybicki, K.
32461
Tamura, N.
32462
Lu, R. -S.
32463
Singh, J. B.
32464
MacNaughton, J.
32465
Majumder, G.
32466
Varvell, K. E.
32467
Nagasaka, Y.
32468
Shibuya, H.
32469
Mandl, F.
32470
Aulchenko, V.
32471
Nakadaira, T.
32472
Sagawa, H.
32473
Nakano, E.
32474
Onuki, Y.
32475
Nakao, M.
32476
Tanaka, J.
32477
Nam, J. W.
32478
Natkaniec, Z.
32479
Nishida, S.
32480
Nitoh, O.
32481
Shwartz, B.
32482
Wang, C. C.
32483
Noguchi, S.
32484
Teramoto, Y.
32485
Saitoh, S.
32486
Nozaki, T.
32487
Choi, Y.
32488
Ostrowicz, W.
32489
Wang, C. H.
32490
Ozaki, H.
32491
Palka, H.
32492
Park, C. W.
32493
Park, H.
32494
Taylor, G. N.
32495
Bakich, A. M.
32496
Peak, L. S.
32497
Watanabe, Y.
32498
Choi, Y. K.
32499
Soni, N.
32500
Perroud, J. -P.
32501
Guo, R.
32502
Sakai, Y.
32503
Ban, Y.
32504
Sakamoto, H.
32505
Satapathy, M.
32506
Satpathy, A.
32507
Schneider, O.
32508
Wang, M. -Z.
32509
Danilov, M.
32510
Schrenk, S.
32511
Schwanda, C.
32512
Behera, P. K.
32513
Haba, J.
32514
Tokuda, S.
32515
Semenov, S.
32516
Igaki, T.
32517
Stanič, S.
32518
Starič, M.
32519
Sugi, A.
32520
Kinoshita, K.
32521
Sugiyama, A.
32522
Sumisawa, K.
32523
Sumiyoshi, T.
32524
Bedny, I.
32525
Hanagaki, K.
32526
Suzuki, K.
32527
Suzuki, S.
32528
Won, E.
32529
Igarashi, Y.
32530
Yabsley, B. D.
32531
Dong, L. Y.
32532
Suzuki, S. Y.
32533
Kim, Heejong
32534
Tomoto, M.
32535
Tomura, T.
32536
Trabelsi, K.
32537
Miyabayashi, Y.
32538
Tsuboyama, K.
32539
Tsukamoto, T.
32540
Uehara, S.
32541
Ueno, K.
32542
Dragic, J.
32543
Iijima, T.
32544
Unno, Y.
32545
Uno, S.
32546
Bizjak, I.
32547
Kim, H. J.
32548
Bondar, A.
32549
Handa, F.
32550
Ushiroda, Y.
32551
Matsuishi, T.
32552
Yamada, Y.
32553
Eidelman, S.
32554
Yamaguchi, A.
32555
Yamashita, Y.
32556
Inami, K.
32557
Yamauchi, M.
32558
Yanai, H.
32559
Yokoyama, M.
32560
Yuan, Y.
32561
Hara, T.
32562
Kim, Hyunwoo
32563
Yusa, Y.
32564
Iwasaki, H.
32565
Zhang, Z. P.
32566
Tamura, Norio
田村, 詔生
journal article
American Physical Society
2002
application/pdf
Physical Review Letters
251803
89
1
6
Physical Review Letters
AA00773679
00319007
https://niigata-u.repo.nii.ac.jp/record/2461/files/e251803.pdf
eng
info:doi/10.1103/PhysRevLett.89.251803
Copyright: The American Physical Society