2024-03-29T14:08:08Z
https://niigata-u.repo.nii.ac.jp/oai
oai:niigata-u.repo.nii.ac.jp:00002460
2022-12-15T03:35:34Z
453:454
468:469:470
Measurement of the Electroweak Penguin Process B→Xsℓ+ℓ-
Measurement of the Electroweak Penguin Process B→Xsℓ+ℓ-
Kaneko, J.
32161
Abe, K.
32162
Abe, K.
32163
Abe, T.
32164
Adachi, I.
32165
Ahn, Byoung Sup
32166
Aihara, H.
32167
Akatsu, M.
32168
Asano, Y.
32169
Aso, T.
32170
Aulchenko, V.
32171
Kichimi, H.
32172
Kim, D. W.
32173
Kim, Heejong
32174
Kim, H. J.
32175
Kim, H. O.
32176
Kim, Hyunwoo
32177
Kim, S. K.
32178
Kinoshita, K.
32179
Kobayashi, S.
32180
Mori, T.
32181
Varner, G.
32182
Korpar, S.
32183
Križan, P.
32184
Krokovny, P.
32185
Kulasiri, R.
32186
Kumar, S.
32187
Kwon, Y. -J.
32188
Lange, J. S.
32189
Leder, G.
32190
Lee, S. H.
32191
Li, J.
32192
Varvell, K. E.
32193
Nagamine, T.
32194
Limosani, A.
32195
Lu, R. -S.
32196
MacNaughton, J.
32197
Majumder, G.
32198
Mandl, F.
32199
Aushev, T.
32200
Nagasaka, Y.
32201
Nakadaira, T.
32202
Nakano, E.
32203
Wang, C. C.
32204
Nakao, M.
32205
Nam, J. W.
32206
Neichi, K.
32207
Nishida, S.
32208
Nitoh, O.
32209
Noguchi, S.
32210
Nozaki, T.
32211
Bakich, A. M.
32212
Ogawa, S.
32213
Ohshima, T.
32214
Wang, C. H.
32215
Okabe, T.
32216
Okuno, S.
32217
Olsen, S. L.
32218
Onuki, Y.
32219
Ostrowicz, W.
32220
Ozaki, H.
32221
Pakhlov, P.
32222
Palka, H.
32223
Ban, Y.
32224
Park, C. W.
32225
Wang, J. G.
32226
Park, H.
32227
Park, K. S.
32228
Perroud, J. -P.
32229
Peters, M.
32230
Piilonen, L. E.
32231
Root, N.
32232
Rybicki, K.
32233
Sagawa, H.
32234
Sakai, Y.
32235
Banas, E.
32236
Wang, M. -Z.
32237
Sakamoto, H.
32238
Satapathy, M.
32239
Satpathy, A.
32240
Schneider, O.
32241
Schrenk, S.
32242
Schwanda, C.
32243
Semenov, S.
32244
Senyo, K.
32245
Seuster, R.
32246
Shibuya, H.
32247
Watanabe, Y.
32248
Bartel, W.
32249
Shwartz, B.
32250
Sidorov, V.
32251
Singh, J. B.
32252
Soni, N.
32253
Stanič, S.
32254
Sumisawa, K.
32255
Sumiyoshi, T.
32256
Suzuki, K.
32257
Suzuki, S.
32258
Won, E.
32259
Suzuki, S. Y.
32260
Bay, A.
32261
Swain, S. K.
32262
Tajima, H.
32263
Takahashi, T.
32264
Takasaki, F.
32265
Tamai, K.
32266
Tamura, N.
32267
Tanaka, J.
32268
Tanaka, M.
32269
Yabsley, B. D.
32270
Taylor, G. N.
32271
Teramoto, Y.
32272
Behera, P. K.
32273
Tokuda, S.
32274
Tomoto, M.
32275
Tomura, T.
32276
Trabelsi, K.
32277
Trischuk, W.
32278
Tsuboyama, T.
32279
Tsukamoto, T.
32280
Bozek, A.
32281
Uehara, S.
32282
Ueno, K.
32283
Uno, S.
32284
Bondar, A.
32285
Ushiroda, Y.
32286
Marlow, D.
32287
Yamada, Y.
32288
Yamaguchi, A.
32289
Yamashita, Y.
32290
Yamauchi, M.
32291
Yanai, H.
32292
Yashima, J.
32293
Yokoyama, M.
32294
Yuan, Y.
32295
Yusa, Y.
32296
Zhang, C. C.
32297
Matsumoto, S.
32298
Bračko, M.
32299
Zhang, J.
32300
Zhang, Z. P.
32301
Zheng, Y.
32302
Zhilich, V.
32303
Žontar, D.
32304
Brodzicka, J.
32305
Browder, T. E.
32306
Casey, B. C. K.
32307
Chang, P.
32308
Matsumoto, T.
32309
Chao, Y.
32310
Chen, K. -F.
32311
Cheon, B. G.
32312
Chistov, R.
32313
Choi, Y.
32314
Choi, Y. K.
32315
Danilov, M.
32316
Dong, L. Y.
32317
Eidelman, S.
32318
Eiges, V.
32319
Mitaroff, W.
32320
Enari, Y.
32321
Everton, C. W.
32322
Fang, F.
32323
Fujii, H.
32324
Fukunaga, C.
32325
Gabyshev, N.
32326
Garmash, A.
32327
Gershon, T.
32328
Guo, R.
32329
Haba, J.
32330
Miyabayashi, K.
32331
Handa, F.
32332
Hara, T.
32333
Harada, Y.
32334
Hastings, N. C.
32335
Hayashii, H.
32336
Hazumi, M.
32337
Heenan, E. M.
32338
Higuchi, I.
32339
Higuchi, T.
32340
Hinz, L.
32341
Miyabayashi, Y.
32342
Hojo, T.
32343
Hoshi, Y.
32344
Hou, W. -S.
32345
Huang, H. -C.
32346
Igaki, T.
32347
Igarashi, Y.
32348
Iijima, T.
32349
Inami, K.
32350
Ishikawa, A.
32351
Ishino, H.
32352
Miyake, H.
32353
Itoh, R.
32354
Iwasaki, H.
32355
Iwasaki, Y.
32356
Jang, H. K.
32357
Kang, J. H.
32358
Kang, J. S.
32359
Katayama, N.
32360
Kawai, H.
32361
Kawakami, Y.
32362
Kawamura, N.
32363
Moloney, G. R.
32364
Kawasaki, T.
32365
Tamura, Norio
田村, 詔生
journal article
American Physical Society
2003
application/pdf
Physical Review Letters
021801
90
1
6
Physical Review Letters
AA00773679
00319007
https://niigata-u.repo.nii.ac.jp/record/2460/files/b021801.pdf
eng
info:doi/10.1103/PhysRevLett.90.021801
Copyright: The American Physical Society